IEEE 35th Asian Test Symposium 2026（ATS 2026） 即將於 2026年12月1日至3日 假 高雄日航酒店 舉行。ATS 為亞洲地區電子測試與設計驗證領域之重要國際研討會，長期致力於促進學術界與產業界在系統、模組、元件測試及相關測試技術方面之交流與合作。

本屆 ATS 2026 將匯聚來自全球之研究學者、工程專家與產業先進，共同分享電子測試、可靠度、設計驗證與新興技術應用之最新研究成果。大會誠摯邀請各位先進踴躍投稿原創且未發表之研究論文，與國內外專家學者共同交流前瞻技術與實務經驗。

Important Dates
● Paper Submission Deadline: June 6, 2026
● Notification of Acceptance: September 14, 2026
● Camera-Ready Manuscript Due Date: October 13, 2026
● Conference Date: December 1–3, 2026

更多詳細內容請詳見大會網站：https://www.ats2026.tw/