聯盟將於115年5月11日、18日邀請鄭武東博士(Former Chief Scientist, Siemens Digital Industries Software) 進行專題演講，歡迎分享和邀請相關領域老師及學生踴躍參加 。宣傳海報電子檔如附，敬請參用，謝謝！

------------------------------------------------

時間 / 地點：

場次一 115年5月11日 15:30~17:20 / 清華大學 劉炯朗館 206教室

場次二 115年5月18日 15:30~17:20 / 臺灣大學　博理館 112室　 (座位有限，前40位報名優先參加)

講題：Progress Review of Test Automation

講員：Wu-Tung Cheng | Former Chief Scientist, Siemens Digital Industries Software

報名網址   https://forms.gle/oEJzjefwxyAGoHf99     

指導單位：教育部

主辦單位：系統晶片設計應用聯盟

協辦單位：跨域智慧晶片設計推動聯盟

              國立清華大學 電機工程學系、積體電路設計技術研發中心、半導體研究學院

              國立臺灣大學電子工程學研究所